弗萊貝格MDPinline ingot在線硅錠成像設(shè)備對高通量要求的PV工廠中多晶和類單晶錠進行電學(xué)參數(shù)測試表征,在1mm分辨率下的總測量時間少于一分鐘。
更新時間:2023-06-15
弗萊貝格MDPinline ingot在線硅錠成像設(shè)備
對高通量要求的PV工廠中多晶和類單晶錠進行電學(xué)參數(shù)測試表征,在1mm分辨率下的總測量時間少于一分鐘。
產(chǎn)品特點
檢測符合半導(dǎo)體標準SEMI PV9-1110
對半導(dǎo)體材料電學(xué)參數(shù)進行非接觸和非破壞性測試
對少子壽命參數(shù)可做面掃描測試
對不可見缺陷的可視化測試具有很高靈敏度
對鐵濃度分布做面掃描自動設(shè)置硅錠切割標準
對硅錠少子壽命的穩(wěn)態(tài)測試
自動化的集成設(shè)計低成本測試
對光伏級別的硅錠進行2D成像掃描測試,
對一個硅錠,可在一分鐘內(nèi)完成分辨率低于1mm的成像測試
產(chǎn)品優(yōu)勢
MDPinline ingot對有高通量要求PV工廠里的多晶硅錠電學(xué)參數(shù),具備在線測試速度:在1分鐘內(nèi)可完成分辨率大于1mm的成像掃描測試,同時可完成電導(dǎo)類型轉(zhuǎn)變的空間分布掃描和電阻率的線掃描測試。客戶制定的硅錠切割標準,可通過數(shù)據(jù)中心,對下一代PV工廠的材料制備進行全自動監(jiān)控,完成對材料生長質(zhì)量控制,坩堝狀況監(jiān)控,以及各種失效分析。
弗萊貝格MDPinline ingot在線硅錠成像設(shè)備
MDPinline ingot系統(tǒng)是范圍內(nèi)的測量工具,可用于對多晶硅和類單晶硅錠進
行電學(xué)表征。專為高通量工廠中的單個晶錠測試而開發(fā),每個晶錠都可在1分鐘內(nèi)完成所有面的電學(xué)
參數(shù)表征測試參數(shù)包括1mm分辨率的少子壽命面掃描分布,電導(dǎo)類型分布圖,以及電阻率線掃描分布圖。
該系統(tǒng)包括數(shù)據(jù)處理,傳輸和存儲,以及評估系統(tǒng)。提供全自動的硅錠切割位置,用于產(chǎn)能,材料質(zhì)量監(jiān)控,坩堝選擇和工藝優(yōu)化等。